详细摘要： Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半...
产品型号：所在地：更新时间：2024-04-01 在线留言
北京东方中科集成科技股份有限公司
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详细摘要： Keysight B1500A半导体参数分析仪是一款多功能的设备特性分析仪，支持IV，CV，脉冲/动态IV等。大型机和插入式模块可表征大多数电子设备以及材料，半...
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详细摘要： 4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种的参数分析仪具有的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作...
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详细摘要： 2600-PCT-xB大功率半导体器件测试系统可以提供高达10kV或100A的电流、电压测试范围，可匹配目前的大功率半导体器件测试对大电压和大电流的要求，通过增...
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详细摘要： ST2500系列高性能数字混合信号测试系统支持250Mbps数据传输，125Mhz Pattern Rate。支持多机头级联，实现32~1280数字通道灵活组合...
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详细摘要： 为了更好地满足客户高性能、高稳定性的测试需求，加速科技重磅推出了新一代测试系统ST5000系列。该系列包含ST5000与ST5000HD两款产品，支持1024数...
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详细摘要： 一款基于蓝牙标准SIG认证的自动化测试设备，用于蓝牙芯片的自动化测试。ST7008支持3GPP TS38.521 Release 15/16 版本、Sub-6G...
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详细摘要： ST-G604P是料管式的全自动入料、并行四通道的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，其采用金手指夹...
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详细摘要： ST-G604C是料管式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持四组料管出...
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详细摘要： SE-G604C是管料式的全自动入料、半自动出料的集成电路分选机。设备由自动进料部件、测试梭、自动分料梭、电子控制系统、气动系统以及机架部分组成，支持8BIN双...
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详细摘要： X系列是一款专业应对各类芯片性能测试 的综合型半自动晶圆探针台，集成了电学、光波、微波等多种功能，高测试精度、运行效率与系统稳定性，可匹配多种测试应用环境，能为...
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详细摘要： CG系列探针台可提供在超高真空与高低温转换的环境下， 实现对器件及材料表征的IV/CV特性测试、射频测试、光电 测试、电磁输运特性及霍尔效应等测试。 通过设置真...
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详细摘要： C系列探针台通过增加屏蔽腔体的结构可实现无电磁干扰 (EMI) /射频干扰 (RFI)和不透光的测量环境，可在非真空条件下实现高低温测试需求。
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详细摘要： FA系列探针台是专为失效分析实验室设计的一款量测设备，具光学特性、激光特性，设备结构稳定，系统性能优异， 支持多功能升级，产品功能丰富齐全。
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详细摘要： SEMISHARE研发的卡盘移动技术，可满足您对整片晶圆快速测试的需求，H系列探针台非常适合研发类实验室的一次性预算购置。
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详细摘要： 吉時利的參數分析系统配置是功率器件特性分析的完整分析方案，包括高质量仪器、电缆、测试夹具和软件。提供7种配置，每种配置都具有快速检查器件基本参数（例如击穿电压）...
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详细摘要： S500自动参数测试系统基于吉时利公司的高性能源表及电测技术，可完成各种直流、交流信号测试，可广泛用于半导体工艺制程的过程监控、重复性监控及器件检测领域。
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